大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

本设备是利用瞬间多通道测光光谱仪以及偏光光学系高速测量透过型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自动XY-stage以及自动倾斜旋转stage的2个Sample stage。Calibration时，自动set基准sample。

偏光计测模组是用CCD camera的1shot来获取多角度的偏光强度pattern，因与以往的偏光计测装置相比，其无偏光子回旋机构，故其可维持其的测定及稳定的性能。

因本系统为精密光学测定装置，作为设置场所，请考虑以下条件。万一，下记条件未被满足的场合，本系统的性能有可能无法发挥其.请注意。

测定haze补正用样品（与被测定样品相同haze特性AG-TAC）,取得其补正table. 反复性能。(保证值)是利用本装置附属的基准样本(偏光板)的测量结果（0.1s间隔 定点15回连续测量）。将粘贴面有漏出的样品贴合与样品治具上，反转治具测定，玻璃上贴附样品的场合，将超出部分的film定位与基准面，只反转样品进行测定。因本系统为精密光学测定装置，作为设置场所，请考虑以下条件。