大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

使用显微光谱法在微小区域内通过绝i对反射率进行测量，可进行高i精度膜厚度/光学常数分析。

可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间上，能达到1秒/点的高速测量，并且搭载了即使是初次使用的用户，也可容易出分析光学常数的软件

膜厚仪测试时有关辐射安全注意事项

幅射安全方面膜厚仪由于使用X射线管而产生辐射。测量头的设计完全符合国际X射线安全要求：　　·测量头控制台上的一个钥匙开关通过打开或关闭X射线管上的高压决定X幅射的产生与否；　　·一个多级故障自动保险互锁系统可控制X幅射的产生，从而有效保护操作者的安全；　　·如果测量门没有完全关闭，X幅射就不会进入测量室；　　·足够的遮罩用来减小外部的幅射量。

1.膜厚测试仪出现下列情况，必需重新校准。　　·校准时，输入了一个错误值；　　·操作错误。　　2.在直接方式下，如果输入了错误的校准值，应紧接着做一次测量，随后再做一次校准，即可获取新值消除错误值。　　3.每一组单元中，只能有一个校准值。　　4.零点校准和二点校准都可以重复多次，以获得更为精准的校准值，提高测量精度但此过程中一旦有过一次测量，则校准过程便告结束。