rets相位差光学材料量

产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。可选配倾斜式、旋转式量测平台，评估三次元折射率参数分析等眼帘角特性。共同量测样品，从容架构量测平台。

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

用基准Sample实施设备，偏光prism unit的角度校正和基准Sample自身的Retardation测量。此外，反射用偏光子的角度校正可同时进行。

  设置场所    　：　屋内设置（避免太阳直射）

   周围温度    ：20～35℃ 不存在温度急剧变化的场合

   相对湿度    ：30～80％

   周围环境    ： 湿气、灰尘少、无腐蚀性气体、换气良好

   电压　    ：　AC110V±10V（单相）

             ：没有急剧的负载变化 。  

             ：附近没有显著噪声源。接地应该是接地电阻100Ω以下。

               MAX 15A

 偏光计测模组是用CCD camera的1shot来获取多角度的偏光强度pattern，因与以往的偏光计测装置相比，其无偏光子回旋机构，故其可维持其的测定及稳定的性能。用基准Sample实施设备，偏光prism unit的角度校正和基准Sample自身的Retardation测量。此外，反射用偏光子的角度校正可同时进行。