大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

产品特点非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。宽阔的波长量测范围。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量测范围。(1nm~250μm)对应显微镜下的微距量测口径。

电脑装有Windows XP Professional或Windows 7作为操作系统，考虑到网络安全和病毒的防止，将安装诺顿网络安全特i警或诺顿反病毒软件。本程序从安装日开始计算，在连接网络的情况下可维持1年的i新状态。之后如要更新，请自行购买。   主要测试项目：量子效率测定，量子效率的激发波长依赖特性，发光光谱、反射光谱测定，透过、吸收光谱测量，PL激发光谱，颜色演算（色度、色温、演色性等）

FE3000反射式膜厚量测仪原理为：利用单色仪和氙灯的组合可实现任意波段的激发光并以此来照射荧光材料样品，再以光谱仪对产生的发光光谱进行测试并对其荧光材料特性做出评价。

1）石英材质液体比色皿，光学透过率大于98%，全波段无荧光反应，用于液体样品测试（3个）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

     2）具有专用的液体容器定位装置，可实现入射光垂直入射到容器表面。