大塚电子有限公司 粒径仪测试设备 粒径仪

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

颗粒大小与激光粒度分析仪

激光粒度分析仪

　　仪器分类

　　?静态激光

　　能谱是稳定的空间分布。主要适用于微米级颗粒的测试，粒径仪价格，经过改进也可将测量下限扩展到几十纳米。

　　?动态激光

　　根据颗粒布朗运动的快慢，通过检测某一个或二个散射角的动态光散射信号分析纳米颗粒大小，日本粒径仪，能谱是随时间高速变化。动态光散射原理的粒度仪仅适用于纳米级颗粒的测试。

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激光粒度仪的测量原理要求在测试过程中，粒径仪，样品的浓度以样品中颗粒之间相互不发生二次散射为原则，理论上就是要求悬浮液或者空气中颗粒之间的距离为颗粒直径的3倍，但是这个要求非常难以掌握，因此在实际的粒度测试中，粒径仪测试设备，通过调整遮光比的数值来尽量保证颗粒之间不发生二次散射。

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产品特点对应高盐浓度溶液界达电位 。可量测0-90℃宽阔的温度范围。可量测悬浊度的高浓度样本粒径。搭载自动温度梯度测量功能，可分析变性、相变温度。通过i新型的高感度APD提高感光度，成功缩短了量测时间。