大塚OPTM OPTM 苏州大塚电子公司

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

影响膜厚仪测量的的客观因素

耦合剂对膜厚仪的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气，使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。如果选择种类或使用方法不当，将造成误差或耦合标志闪烁，无法测量。因根据使用情况选择合适的种类，当使用在光滑材料表面时，可以使用低粘度的耦合剂；当使用在粗糙表面、垂直表面及顶表面时，应使用粘度高的耦合剂。

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彩色抗蚀剂（RGB）的薄膜厚度测量[FE - 0003]

液晶显示器的结构通常如右图所示。 CF在一个像素中具有RGB，OPTM反射率测试，并且它是非常精细的微小图案。 在CF膜形成方法中，主流是采用应用在玻璃的整个表面上涂覆基于颜料的彩色抗蚀剂，OPTM，通过光刻对其进行曝光和显影，并且在每个RGB处仅留下图案化的部分的工艺。 在这种情况下，如果彩色抗蚀剂的厚度不恒定，将导致图案变形和作为滤色器导致颜色变化，大塚OPTM，因此管理膜厚度值很重要。

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膜厚仪测试时有关辐射安全注意事项

幅射安全方面膜厚仪由于使用X射线管而产生辐射。测量头的设计完全符合国际X射线安全要求：　　·测量头控制台上的一个钥匙开关通过打开或关闭X射线管上的高压决定X幅射的产生与否；　　·一个多级故障自动保险互锁系统可控制X幅射的产生，从而有效保护操作者的安全；　　·如果测量门没有完全关闭，X幅射就不会进入测量室；　　·足够的遮罩用来减小外部的幅射量。

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