大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

膜厚仪直接的镀膜操纵方法是石英晶体微量平衡法(QCM)，此法可以直接驱动蒸发祥，通过PID控制循环驱动挡板，OPTM设备，保持蒸发速率。只有将仪器与系统控制软件相连接，它就可能节制全体的镀膜进程。然而QCM的正确度是有限的，OPTM膜厚仪，部分起因是由于它监控的是被镀膜的质量而不是其光学厚度。

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使用显微光谱法在微小区域内通过绝i对反射率进行测量，可进行高i精度膜厚度/光学常数分析。

可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，OPTM，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间上，能达到1秒/点的高速测量，并且搭载了即使是初次使用的用户，也可容易出分析光学常数的软件

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　膜厚仪厂家解释凡其厚度与入射光波长相比拟的并能引起干涉现象(相干光程小于相干长度)的膜层为薄膜，OPTM优点，其厚度远大于入射光波波长的膜层称之为厚膜。如今，微电子薄膜，光学薄膜，抗1氧化薄膜，巨磁电阻薄膜，高温超导薄膜等在工业生产和人类生活中的不断应用，在工业生产的薄膜，其厚度是一个非常重要的参数，直接关系到该薄膜材料能否正常工作。

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