大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。可选配倾斜式、旋转式量测平台，评估三次元折射率参数解析等视野角特性。配合量测样品，自由架构量测平台。

购买须知

1、厂家货源正i品

日本原装。

2、关于尺码

按照出厂产品资料有说明。

3、关于颜色

4、关于客服

客户全天24小时在线，如需紧急处理，请致电公司 。

5、关于售后

日本产品保修一年，消耗品不再维修范围内。

 偏光计测模组是用CCD camera的1shot来获取多角度的偏光强度pattern，因与以往的偏光计测装置相比，其无偏光子回旋机构，故其可维持其的测定及稳定的性能。用基准Sample实施设备，偏光prism unit的角度校正和基准Sample自身的Retardation测量。此外，反射用偏光子的角度校正可同时进行。

  本设备是利用瞬间多通道测光光谱仪以及偏光光学系高速测量透过型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自动XY-stage以及自动倾斜旋转stage的2个Sample stage。Calibration时，自动set基准sample。

  本软件，通过自动制御偏光三棱镜单元和瞬间多通道测光检出器以及自动XY平台来实施cellgap检查每个样品都备有检查菜单，并且样品可自动运输，操作员只需选择检查菜单便可轻松完成的测定。